Spatial error analysis : a unified, application-oriented treatment
Tác giả: David Y. Hsu
Nhà xuất bản: IEEE Press
Năm xuất bản: 1999
Số trang: 217
Đang rỗi: 2 / Số lượng: 2
Khoa: Khoa Ngôn ngữ và văn hóa Anh
Chuyên ngành: Vật lý ứng dụng
Danh mục: Sách Tham Khảo
Loại giáo trình:
Mã Dewey: 621.3
ISBN: 9780780334533
Kích thước: 27 cm
Đơn giá:
Ngôn ngữ: Tiếng Anh
Nơi lưu trữ: Đông Á Đăk Lăk
Số Cutter: S63 - D38
Loại tài liệu: Sách
Từ khóa:
Tóm tắt:
STT | Mã từng cuốn sách | Barcode | Kho lưu trữ | Nơi lưu trữ |
---|---|---|---|---|
C1 | S17274197531 | Kho tài liệu ngoại văn/ Foreign Language Collection | UDA.Đăk Lăk | |
C2 | S17274197532 | Kho tài liệu ngoại văn/ Foreign Language Collection | UDA.Đăk Lăk |