Electromigration in ulsi interconnections
Tác giả: Cher Ming Tan
Nhà xuất bản: World Scienctific
Năm xuất bản: 2010
Số trang: 291
Đang rỗi: 5 / Số lượng: 5
Khoa: Khoa Khoa học cơ bản
Chuyên ngành:
Danh mục: Sách Tham Khảo
Loại giáo trình:
Mã Dewey: 621.381
ISBN: 9789814273329
Kích thước: 24 cm
Đơn giá: 0
Ngôn ngữ: Tiếng Anh
Nơi lưu trữ: Đông Á Đà nẵng
Số Cutter: E44 - C44
Loại tài liệu: Sách
Từ khóa: Ulsi; Electron; Interconnections
Tóm tắt:
STT | Mã từng cuốn sách | Barcode | Kho lưu trữ | Nơi lưu trữ |
---|---|---|---|---|
C1 | E16151941881 | Kho tài liệu ngoại văn/ Foreign Language Collection | UDA.Đà Nẵng | |
C2 | E16151941882 | Kho tài liệu ngoại văn/ Foreign Language Collection | UDA.Đà Nẵng | |
C3 | E16151941883 | Kho tài liệu ngoại văn/ Foreign Language Collection | UDA.Đà Nẵng | |
C4 | E16151941884 | Kho tài liệu ngoại văn/ Foreign Language Collection | UDA.Đà Nẵng | |
C5 | E16151941885 | Kho tài liệu ngoại văn/ Foreign Language Collection | UDA.Đà Nẵng |