Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Tác giả: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy
Nhà xuất bản: Springer New York
Năm xuất bản: 2018
Số trang: 554
Đang rỗi: 0 / Số lượng: 0
Khoa: Khoa Ngôn ngữ và văn hóa Anh
Chuyên ngành:
Danh mục: Sách Tham Khảo
Loại giáo trình:
Mã Dewey:
ISBN: 978-1-4939-6676-9
Kích thước:
Đơn giá: 0
Ngôn ngữ: Tiếng Anh
Nơi lưu trữ: Đông Á Đà nẵng
Số Cutter: S33 - J67
Loại tài liệu: Ebook
Từ khóa:
Tóm tắt:
| STT | Mã từng cuốn sách | Barcode | Kho lưu trữ | Nơi lưu trữ |
|---|
