ĐH ĐÔNG ÁSINH VIÊN
X-Ray scattering from semiconductors
Tác giả: Paul F. Fewster
Nhà XB: Imperial College Press(ICP)
Năm XB: 2000
Ngôn ngữ: Tiếng Anh
Loại TL: Sách
Số lượng: 1
Hiện có: 1

Giới thiệu nội dung:

This book presents a practical guide to the analysis of materials and includes a thorough description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.


Thông tin chi tiết

Mã tài liệu: X1523347549 Danh mục: Sách Tham Khảo
Mã Dewey: 537.622 Chuyên ngành: 537.Dđiện và điển tử
Số Cutter: P38 Khoa: Sách ngoại văn
ISBN: 1860941591 Giá tiền: 0
Số trang: 287 Kích thước: 23cm
Nơi lưu trữ: Đông Á Đà nẵng Vị trí:
Tái bản: Ghi chú:

Nhãn tài liệu

THƯ VIỆN ĐẠI HỌC Đông Á
537.622
P38
X1523347549
537.622
P38
X07


BÌNH LUẬN
SEOL 1.0 - © 2014 Dong A University, Da Nang
Designed and developed by ICT Center